2D potential measurements by applying automatic beam adjustment system to heavy ion beam probe diagnostic on the Large Helical Device
2D potential measurements by applying automatic beam adjustment system to heavy ion beam probe diagnostic on the Large Helical Device
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通过将自动束调整系统应用于大型螺旋装置上的重离子束探针诊断进行二维电位测量
DOI：
10.1063/1.4891975
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发表时间：
2014
影响因子：
1.6
通讯作者：
Y.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shimizu;A.;Ido;T.;Kurachi;M.;Makino;R.;Nishiura;M.;Kato;S.;Nishizawa;A.;Hamada;Y.
