F.Lu: "photoinduced admittance spectroscopy to detect the shallow electron traps in nitrogen-doped highly compensated ZnSe" Journal of Crystal Growth. 8(15). 2425-2528 (1997)
F.Lu: "photoinduced admittance spectroscopy to detect the shallow electron traps in nitrogen-doped highly compensated ZnSe" Journal of Crystal Growth. 8(15). 2425-2528 (1997)
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F.Lu：“光致导纳光谱法检测氮掺杂高度补偿 ZnSe 中的浅电子陷阱”《晶体生长杂志》。
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