Kai, K., Inoue, A., Ohsawa, T., and Murakami, K.: "Analyzing and Reducing the Impact of Shorter Data Retention Time on the Performance of Merged DRAM/Logic LSIs"IEICE Trans. on Electronics. E81-C, 9. 1448-1454 (1998)
Kai, K., Inoue, A., Ohsawa, T., and Murakami, K.: "Analyzing and Reducing the Impact of Shorter Data Retention Time on the Performance of Merged DRAM/Logic LSIs"IEICE Trans. on Electronics. E81-C, 9. 1448-1454 (1998)
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Kai, K.、Inoue, A.、Ohsawa, T. 和 Murakami, K.：“分析并减少较短数据保留时间对合并 DRAM/逻辑 LSI 性能的影响”IEICE Trans。
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