In-situ characterization of Thermal Stability and Depth Profile of Electronic Structure of Engineered Surfaces of c-axis YBCO Films
In-situ characterization of Thermal Stability and Depth Profile of Electronic Structure of Engineered Surfaces of c-axis YBCO Films
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c 轴 YBCO 薄膜工程表面的热稳定性和电子结构深度剖面的原位表征
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Ohki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Okuda;N.Terada et al.;N.Terada;仁木 栄;S.H.Kong;T.Okuda;S.Niki;K.Ohki;S.Miyanomae;K.Ohki
