LSI Failure Analysis with CAD-Linked Electron Beam Test System and Its Cost Evaluation (Special Issue on LSI Failure Analysis)
LSI Failure Analysis with CAD-Linked Electron Beam Test System and Its Cost Evaluation (Special Issue on LSI Failure Analysis)
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利用 CAD 联动电子束测试系统进行 LSI 失效分析及其成本评估（LSI 失效分析特刊）
DOI：
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发表时间：
1994
影响因子：
0.5
通讯作者：
K. Nakamae
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Fujioka;K. Nakamae
