H.Yoshida, Y.Ikuhara, T.Sakuma: "Grain boundary electronic structure related to the high-temperature creep resistance in polycrystalline Al_2O_3"Acta Mater.. 50. 2955-2966 (2002)
H.Yoshida, Y.Ikuhara, T.Sakuma: "Grain boundary electronic structure related to the high-temperature creep resistance in polycrystalline Al_2O_3"Acta Mater.. 50. 2955-2966 (2002)
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H.Yoshida，Y.Ikuhara，T.Sakuma：“与多晶 Al_2O_3 高温蠕变抗力相关的晶界电子结构”Acta Mater.. 50. 2955-2966 (2002)
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