CMOS高速度カメラを用いたモアレ法による高速変形中に生じるひずみ計測 / CMOS高速度カメラを用いたモアレ法による高速変形中に生じるひずみ計測
CMOS高速度カメラを用いたモアレ法による高速変形中に生じるひずみ計測 / CMOS高速度カメラを用いたモアレ法による高速変形中に生じるひずみ計測
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使用 CMOS 高速相机通过莫尔法测量高速变形时发生的应变 / 使用 CMOS 高速相机通过莫尔法测量高速变形时发生的应变
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岸本哲
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Samuel Susanto Slamet;Kyohei Hatano;Naoki Takano and Tomohisa Nagasao;岸本哲;岸本哲
