A Framework for the Simulation of Electrostatic Discharge Immunity Using the Unified Circuit Modeling Technique
A Framework for the Simulation of Electrostatic Discharge Immunity Using the Unified Circuit Modeling Technique
复制标题
使用统一电路建模技术的静电放电抗扰度仿真框架
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
關根 惟敏
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hideaki Muraoka;Yuta Inoue;Tadatoshi Sekine;and Hideki Asai;Tadatoshi Sekine;Tadatoshi Sekine;Tadatoshi Sekine;Tadatoshi Sekine;Tadatoshi Sekine;Tadatoshi Sekine;Tadatoshi Sekine;Tadatoshi Sekine;關根 惟敏;關根 惟敏;關根 惟敏;關根 惟敏;關根 惟敏
