Determination of electron energy barrier profiles in HfO_2 dielectric using internal photoemission (IPE)
Determination of electron energy barrier profiles in HfO_2 dielectric using internal photoemission (IPE)
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使用内部光电发射 (IPE) 测定 HfO_2 电介质中的电子能垒分布
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
鳥海明
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Julie Widiez;西村知紀;喜多浩之;鳥海明
