Dedicated QC/QA phantom tools using traceable Ge-68/Ga-68 point-like sources for dbPET and PEM
Dedicated QC/QA phantom tools using traceable Ge-68/Ga-68 point-like sources for dbPET and PEM
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使用可追踪的 Ge-68/Ga-68 点状源进行 dbPET 和 PEM 的专用 QC/QA 模型工具
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tomoyuki Hasegawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Mio Okamoto;Kentaro Takahashi;Keiichi Oda;Yoko Satoh;Yuichi Inaoka;Hiroki Miyatake;Yusuke Inoue;Tomoyuki Hasegawa
