Multiple Target Test Generation Method for Gate-Exhaustive Faults to Reduce the Number of Test Patterns Using Partial MaxSAT
Multiple Target Test Generation Method for Gate-Exhaustive Faults to Reduce the Number of Test Patterns Using Partial MaxSAT
复制标题
用于栅极穷举故障的多目标测试生成方法，以使用部分 MaxSAT 减少测试模式的数量
DOI：
--
复制
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Masayuki Arai
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Ryuki Asami;Toshinori Hosokawa;Masayoshi Yoshimura;Masayuki Arai
