Spin detection atomic resolution using scanning tunneling microscopy
Spin detection atomic resolution using scanning tunneling microscopy
复制标题
使用扫描隧道显微镜检测自旋原子分辨率
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tadahiro Komeda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.H.Arkenbout;et al.;Tadahiro Komeda
