Challenge of molecular reaction induced by hot carriers on MOS structure
Challenge of molecular reaction induced by hot carriers on MOS structure
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热载流子引发的分子反应对MOS结构的挑战
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Ken Hattori
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Haobang Yang;Mio Nishida;Higashi Takaaki;Aydar Irmikimov;and Ken Hattori
