A novel method for surface defect inspection of optic cable with short-wave infrared illuminance
A novel method for surface defect inspection of optic cable with short-wave infrared illuminance
复制标题
一种短波红外照度光缆表面缺陷检测新方法
DOI：
10.1016/j.infrared.2016.07.001
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发表时间：
2016-07
影响因子：
3.3
通讯作者：
刘宁
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
刘宁
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DOI：
10.1007/s00170-007-1302-7
发表时间：
2008-12
期刊：
The International Journal of Advanced Manufacturing Technology
影响因子：
--
作者：
Xiangqian Peng;Youping Chen;Wen-yong Yu;Zude Zhou;Guodong Sun
通讯作者：
Xiangqian Peng;Youping Chen;Wen-yong Yu;Zude Zhou;Guodong Sun
DOI：
10.1007/s00170-006-0505-7
发表时间：
2007-05
期刊：
The International Journal of Advanced Manufacturing Technology
影响因子：
--
作者：
Hui-chao Shang;Youping Chen;Wen-yong Yu;Zude Zhou
通讯作者：
Hui-chao Shang;Youping Chen;Wen-yong Yu;Zude Zhou
影响因子：
2.3
作者：
S. A. Hosseini Ravandi;K. Toriumi
通讯作者：
S. A. Hosseini Ravandi;K. Toriumi
影响因子：
8
作者：
Blayvas, I;Bruckstein, A;Kimmel, R
通讯作者：
Kimmel, R
DOI：
10.1109/icassp.2003.1202339
发表时间：
2003-04
期刊：
2003 IEEE International Conference on Acoustics, Speech, and Signal Processing, 2003. Proceedings. (ICASSP '03).
影响因子：
--
作者：
Ajay Kumar
通讯作者：
Ajay Kumar