A Negative Ion Beam Probe for Diagnostics of a High Intensity Ion Beam

A Negative Ion Beam Probe for Diagnostics of a High Intensity Ion Beam
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用于高强度离子束诊断的负离子束探针

DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
Proceedings of the 1^<st> International Particle Accelerator Conference(IPAC' 10)
影响因子：
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通讯作者：
M. Kisaki and M. Sasao
M. Kisaki and M. Sasao
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
K. Shinto;M. Wada;O. Kaneko;K. Tsumori;M. Nishiura;M. Kisaki and M. Sasao

文献摘要

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