部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法
部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法
复制标题
基于部分直通可测试性的时序电路测试生成方法
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
藤原秀雄
中科院分区：
文献类型：
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作者：
岡伸也;Chia Yee Ooi;市原英行;井上智生;藤原秀雄
