Optical Characterization and X-ray Photoelectron Spectroscopy of Erbium-Doped Silicon Suboxide Infrared Emitting at 1.5μm
Optical Characterization and X-ray Photoelectron Spectroscopy of Erbium-Doped Silicon Suboxide Infrared Emitting at 1.5μm
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1.5μm 掺铒低氧化硅红外发射的光学表征和 X 射线光电子能谱
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Nakamura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Naka;N.Yamamoto;M.Kishi;D.Miyawaki;T.Yoshida;T.Minami;K.Ito;M.Tsuchiya;Y.Nakamura
