Characterization of an organic thin film device under operational condition by fluorescence-yield X-ray absorption spectroscopy
Characterization of an organic thin film device under operational condition by fluorescence-yield X-ray absorption spectroscopy
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通过荧光 X 射线吸收光谱表征运行条件下的有机薄膜器件
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Kawai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.S. Kato;H. Yamane;N. Kosugi;M. Kawai
