Belle 実験におけるセミレプトニックタグを用いたB→D*τν 崩壊の測定
Belle 実験におけるセミレプトニックタグを用いたB→D*τν 崩壊の測定
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Belle 实验中使用半轻标签测量 B→D*τν 衰变
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
飯嶋徹 and the Belle Collaboration
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐藤 優太郎;飯嶋徹 and the Belle Collaboration
