Review of the applications of x-ray refraction and the x-ray waveguide phenomenon to estimation of film structure
Review of the applications of x-ray refraction and the x-ray waveguide phenomenon to estimation of film structure
复制标题
X射线折射和X射线波导现象在薄膜结构估计中的应用综述
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Hayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Tsuji;K.Nakano;Y.Takahashi;K;Havashi;C.Ro;K.Hayashi
