単結晶シリコンの疲労過程における結晶すべり変形の電子線誘起電流観察
単結晶シリコンの疲労過程における結晶すべり変形の電子線誘起電流観察
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单晶硅疲劳过程中晶体滑移变形的电子束感应电流观察
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
神谷庄司，金剛英，杉山裕子，泉隼人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
王旭東;花木宏修;向山和孝;李興盛;倉敷哲生;神谷庄司，金剛英，杉山裕子，泉隼人
