入戸野修,竹本邦子: "X-ray Intensity Distribution around the Reciprocal Lattice Points for Porous Silicon Produced by Electrochemical Anodization" PPHOTON FACTORY ACTIVITY REPORT. 10. 333 (1993)
入戸野修,竹本邦子: "X-ray Intensity Distribution around the Reciprocal Lattice Points for Porous Silicon Produced by Electrochemical Anodization" PPHOTON FACTORY ACTIVITY REPORT. 10. 333 (1993)
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Osamu Nitono、Kuniko Takemoto：“电化学阳极氧化生产的多孔硅的倒易晶格点周围的 X 射线强度分布”PPHOTON 工厂活动报告 10. 333 (1993)。
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