Semiconductor-enhanced Raman Spectroscopy for Highly Sensitive Metal Ions Detection
Semiconductor-enhanced Raman Spectroscopy for Highly Sensitive Metal Ions Detection
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用于高灵敏度金属离子检测的半导体增强拉曼光谱
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yukihiro Ozaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wei Ji;Yue Wang;Ichiro Tanabe;Bing Zhao;Yukihiro Ozaki
