XFEL Auger Electron Sideband Measurements by Near-Infrared Strong Laser Pulses
XFEL Auger Electron Sideband Measurements by Near-Infrared Strong Laser Pulses
复制标题
通过近红外强激光脉冲进行 XFEL 俄歇电子边带测量
DOI：
10.18957/rr.4.2.344
复制
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
彦坂 泰正
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
伏谷 瑞穂;松田 晃孝;遠藤 友随;樋田 裕斗;菱川 明栄;彦坂 泰正
