Atom Detection in Time-resolved TEM Image Series: Application of Computer Vision Techniques to Noise-degraded Frames
Atom Detection in Time-resolved TEM Image Series: Application of Computer Vision Techniques to Noise-degraded Frames
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时间分辨 TEM 图像系列中的原子检测：计算机视觉技术在噪声退化帧中的应用
DOI：
10.1017/s1431927621008011
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发表时间：
2021
影响因子：
2.8
通讯作者：
Crozier, Peter
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Manzorro, Ramon;Xu, Yuchen;Vincent, Joshua;Rivera, Roberto;Matteson, David;Crozier, Peter
显微镜与微量分析2012年会议报告
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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作者：
川﨑 忠寛
通讯作者：
川﨑 忠寛