Mist-CVD法によるAl2O3絶縁膜を用いたAlGaN/GaN MIS-HEMTの電気特性

Mist-CVD法によるAl2O3絶縁膜を用いたAlGaN/GaN MIS-HEMTの電気特性
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采用 Mist-CVD 法使用 Al2O3 绝缘膜的 AlGaN/GaN MIS-HEMT 的电特性

DOI:
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发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
中村 有水
中村 有水
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
ロー ルイ シャン;永瀬 樹;バラトフ アリ;アスバル ジョエル タクラ;徳田 博邦;葛原 正明;谷田部 然治;内藤 健太;本山 智洋;中村 有水

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