二次剥离法26Al的AMS测量

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DOI:
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发表时间:
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期刊:
核电子学与探测技术
影响因子:
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通讯作者:
刘建成
刘建成
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
管永精;何明;阮向东;王伟;吴伟明;王慧娟;鞠志萍;姜山;刘建成

文献摘要

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