一次元量子スピン鎖の励起ギャップ評価:双曲変形を用いたスケーリング解析
一次元量子スピン鎖の励起ギャップ評価:双曲変形を用いたスケーリング解析
复制标题
一维量子自旋链的激发隙评估：使用双曲线变形的标度分析
DOI：
--
复制
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
上田宏
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T.Kawarabayashi;Y.Hatsugai;H.Aoki;上田宏
