接触角度の測定と素子特性によるSiC表面処理の評価
接触角度の測定と素子特性によるSiC表面処理の評価
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基于接触角测量和元件特性的 SiC 表面处理评估
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他4名
中科院分区：
文献类型：
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作者：
鈴木啓之;畑山智亮;他4名
