T.Homma,T.Kono,T.Osaka,M.Watanabe,K.Nagai,: "Microscopic Characterization of Electrochmical Properties of Silicon wafer Surfaces"Electrochem. Soc. Proc.. Vol2000.No17. 621-633 (2000)
T.Homma,T.Kono,T.Osaka,M.Watanabe,K.Nagai,: "Microscopic Characterization of Electrochmical Properties of Silicon wafer Surfaces"Electrochem. Soc. Proc.. Vol2000.No17. 621-633 (2000)
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T.Homma、T.Kono、T.Osaka、M.Watanabe、K.Nagai，：“硅晶片表面电化学性质的微观表征”Electrochem。
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