65nmFD-SOIプロセスにおける非冗長化耐ソフトエラーフリップフロップのエラー耐性評価
65nmFD-SOIプロセスにおける非冗長化耐ソフトエラーフリップフロップのエラー耐性評価
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65nm FD-SOI工艺非冗余抗软误触发器的容错评估
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小林和淑
中科院分区：
文献类型：
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作者：
山口潤己;古田潤;小林和淑
