LDMOS开关在不同频率下的热安全

LDMOS开关在不同频率下的热安全
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DOI:
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发表时间:
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期刊:
半导体学报, 28(6) : 938-942,2007年6月(EI收录)
影响因子:
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通讯作者:
陈星弼
陈星弼
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
李梅芝*;陈星弼

文献摘要

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