反射型偏光顕微鏡による強誘電体表面の光学的異方性評価
反射型偏光顕微鏡による強誘電体表面の光学的異方性評価
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使用反射偏光显微镜评估铁电表面的光学各向异性
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
大谷 幸利
中科院分区：
文献类型：
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作者：
銀屋 真;水谷 康弘;岩田 哲郎;大谷 幸利
