N.Suzuki et al.: "Model for Analysis of XPS Electron Take-off Angle Experiments in Layer-Structured Samples : Determination of Attenuation Lengths in a Well-Characterized Langmuir-Blodgett Film" Surface and Interface Analysis. 25. 650-659 (1997)
N.Suzuki et al.: "Model for Analysis of XPS Electron Take-off Angle Experiments in Layer-Structured Samples : Determination of Attenuation Lengths in a Well-Characterized Langmuir-Blodgett Film" Surface and Interface Analysis. 25. 650-659 (1997)
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N.Suzuki 等人：“层结构样品中 XPS 电子起飞角实验的分析模型：确定良好表征的 Langmuir-Blodgett 薄膜中的衰减长度”表面和界面分析。
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