BTIarray: A Time-overlapping Transistor Array for Efficient Statistical Characterization of Bias Temperature Instability
BTIarray: A Time-overlapping Transistor Array for Efficient Statistical Characterization of Bias Temperature Instability
复制标题
BTIarray：时间重叠晶体管阵列，用于有效统计表征偏置温度不稳定性
DOI：
--
复制
发表时间：
2014
影响因子：
2
通讯作者：
Takashi Sato
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hiromitsu Awano;Masayuki Hiromoto;Takashi Sato
