Mechanism of ring crack initiation in Hertz indentation of monocrystalline silicon analyzed by controlled molecular dynamics

Mechanism of ring crack initiation in Hertz indentation of monocrystalline silicon analyzed by controlled molecular dynamics
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受控分子动力学分析单晶硅赫兹压痕环裂纹萌生机理

DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
CHIP Annals-Manufacturing Technology Vol.59, No.1
影响因子:
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通讯作者:
武澤伸浩
武澤伸浩
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
稲村豊四郎;宍倉由記子;武澤伸浩

文献摘要

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