Ultra-fine defects in RPV surveillance test specimens studied by temperature dependency of positron annihilation
Ultra-fine defects in RPV surveillance test specimens studied by temperature dependency of positron annihilation
复制标题
通过正电子湮灭的温度依赖性研究 RPV 监视测试样本中的超细缺陷
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. De Smet
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Toyama;K.Inoue;M. Shimodaira;K. Yoshida;Y. Nagai;M. J. Konstantinovic;R. Gerard;M. De Smet
