T.Goto and K.Hana: "Capacitance microscopy with a semiconductor probe" The 5th International Colloquimon Scanning Tunnel Microscopy. 45- (1997)
T.Goto and K.Hana: "Capacitance microscopy with a semiconductor probe" The 5th International Colloquimon Scanning Tunnel Microscopy. 45- (1997)
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T.Goto 和 K.Hana：“带有半导体探针的电容显微镜”第五届国际座谈会扫描隧道显微镜。
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