Pressure-induced tin whisker formation

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DOI:
10.1016/j.microrel.2008.04.009
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发表时间:
2008-07
期刊:
Microelectron. Reliab.
影响因子:
--
通讯作者:
T. Shibutani;Qiang Yu;M. Shiratori;M. Pecht
T. Shibutani;Qiang Yu;M. Shiratori;M. Pecht
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
T. Shibutani;Qiang Yu;M. Shiratori;M. Pecht

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