Nano-dimensional measurement using optically trapped probe enhanced by interferometric scale
Nano-dimensional measurement using optically trapped probe enhanced by interferometric scale
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使用干涉尺度增强的光学捕获探针进行纳米尺寸测量
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
道畑正岐
中科院分区：
文献类型：
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作者：
谷内久美子;猪井博登;新田保次;Kiso M;Kazunori Minamikawa;Satoru Matsuda;南川和則;Tetsuhiro Niidome;南川和則;松田賢;松田賢;松田賢;松田賢;松田賢;松田賢;松田賢;柏尚稔;道畑正岐;道畑正岐;道畑正岐;道畑正岐;道畑正岐
