Triple-axis X-ray diffraction analysis of highly oriented YBa2Cu3O7 thin films on LaAlO3 substrates
Triple-axis X-ray diffraction analysis of highly oriented YBa2Cu3O7 thin films on LaAlO3 substrates
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LaAlO3 基底上高取向 YBa2Cu3O7 薄膜的三轴 X 射线衍射分析
DOI：
10.1016/0921-4534(95)00091-7
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发表时间：
1995
影响因子：
1.7
通讯作者：
S. Xu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Li;W. Lin;P. Hatton;Z. Mai;S. Xu
