In-situ Transmission Electron Microscopy at pressures above 1 bar and elevated temperatures
In-situ Transmission Electron Microscopy at pressures above 1 bar and elevated temperatures
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在高于 1 bar 的压力和高温下进行原位透射电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2012
影响因子：
2.8
通讯作者：
H. Zandbergen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Zandbergen
2012年7月29日至8月2日在美国亚利桑那州凤凰城举行的2012年显微镜和微量分析会议上发表的论文的扩展摘要。
Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.