光電子収率分光法によるSiO2/SiC構造の電子状態計測(2)
光電子収率分光法によるSiO2/SiC構造の電子状態計測(2)
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光电子产率光谱法测量SiO2/SiC结构的电子态（2）
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
宮崎誠一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
大田晃生;渡邊浩成;グェンスァンチュン;牧原克典;宮崎誠一
