Md.Altaf-Ul-Amin, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara: "Design for hierarchical two-pattern testability of data paths"IEICE Trans. on Information and Systems. (掲載予定). (2002)
Md.Altaf-Ul-Amin, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara: "Design for hierarchical two-pattern testability of data paths"IEICE Trans. on Information and Systems. (掲載予定). (2002)
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Md.Altaf-Ul-Amin、Satoshi Ohtake、Hideo Fujiwara：“数据路径的分层两种模式可测试性设计”IEICE Trans on Information and Systems（即将出版）。
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