S.Sato et al.: "Structural Study of Thin Amorphous SiO_2 and Si_3N_4 Films by the Grazing Incidence X-ray Scattering (GIXS) Method" High Temperature Materials Processing. (to be published).
S.Sato et al.: "Structural Study of Thin Amorphous SiO_2 and Si_3N_4 Films by the Grazing Incidence X-ray Scattering (GIXS) Method" High Temperature Materials Processing. (to be published).
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S.Sato 等人：“通过掠入射 X 射线散射 (GIXS) 方法研究薄非晶 SiO_2 和 Si_3N_4 薄膜的结构”高温材料加工。
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