J.Takahashi: "Crystal Structure of La_4Si_2O_7N_2 Analyzed by the Rietveld Method Using the Time-of-Flight Neutron Powder Diffraction Data"Chem.Mater.. 15. 1099-1104 (2003)
J.Takahashi: "Crystal Structure of La_4Si_2O_7N_2 Analyzed by the Rietveld Method Using the Time-of-Flight Neutron Powder Diffraction Data"Chem.Mater.. 15. 1099-1104 (2003)
复制标题
J.Takahashi：“使用飞行时间中子粉末衍射数据通过 Rietveld 方法分析 La_4Si_2O_7N_2 的晶体结构”Chem.Mater. 15. 1099-1104 (2003)
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
