Absolute Line Profile Measurements of Silicon Plane Mirrors by Near-Infrared Inte rferometry
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复制标题
近红外干涉测量硅平面镜的绝对线轮廓
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Mizuho MORITA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Junichi UCHIKOSHI;Amane TSUDA;Noritaka AJARI;Taichirou OKAMOTO;Kenta ARIMA;Mizuho MORITA
