Interface Charging Propagation Model for Carrier Migration in OFET
Interface Charging Propagation Model for Carrier Migration in OFET
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OFET 中载流子迁移的界面充电传播模型
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Iwamoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Weis;D.Taguchi;J.Lin;T.Manaka;M.Iwamoto
