Conductor loss evaluation of thin microstrip line with various copper roughnesses
Conductor loss evaluation of thin microstrip line with various copper roughnesses
复制标题
不同铜粗糙度的细微带线的导体损耗评估
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and O. Hashimoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Suga;T. Suzuki;T. Uwano;Y.Akatsuka;K. Ishii;and O. Hashimoto
