R.Nishitani: "An interpretation of the correlation between the intensity of scanning tunneling mi-croscopy(STM)induced light emission and the topographic height for the metal films" Jpn.J.Appl.Phys.36. L1545-L1547 (1997)
R.Nishitani: "An interpretation of the correlation between the intensity of scanning tunneling mi-croscopy(STM)induced light emission and the topographic height for the metal films" Jpn.J.Appl.Phys.36. L1545-L1547 (1997)
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R.Nishitani：“扫描隧道显微镜（STM）诱导光发射强度与金属膜形貌高度之间相关性的解释”Jpn.J.Appl.Phys.36。
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